微波學(xué)報(bào)基礎(chǔ)信息：

《微波學(xué)報(bào)》創(chuàng)刊于1980年，為國(guó)家中文核心期刊。主要內(nèi)容包括：微波場(chǎng)論、微波網(wǎng)絡(luò)、微波元器件及電路、毫米波及亞毫米波技術(shù)、光波導(dǎo)與集成光學(xué)、光與微波相互作用、微波無(wú)線與散射、微波超導(dǎo)技術(shù)與器件、集成電路與工藝、微波CAD、微波在軍事領(lǐng)域、通信、交通、能源、工農(nóng)業(yè)生產(chǎn)等方面的應(yīng)用、微波測(cè)量、微波電路兼容及有關(guān)交叉學(xué)科的學(xué)術(shù)論文和科研成果。

微波學(xué)報(bào)期刊榮譽(yù)：

《微波學(xué)報(bào)》獲獎(jiǎng)情況：中文核心期刊；2004、2005年獲中國(guó)科協(xié)優(yōu)秀論文刊；該刊被以下數(shù)據(jù)庫(kù)收錄：CBST科學(xué)技術(shù)文獻(xiàn)速報(bào)(日)(2009)、中國(guó)科學(xué)引文數(shù)據(jù)庫(kù)(CSCD—2008)。

微波學(xué)報(bào)欄目設(shè)置：

《微波學(xué)報(bào)》主要欄目：學(xué)術(shù)論文與技術(shù)報(bào)告、科研通訊。

微波學(xué)報(bào)訂閱方式：

ISSN：1005-6122，CN：32-1493/TN，地址：南京3918信箱110分箱，郵政編碼：210039。

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微波學(xué)報(bào)社投稿信息

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2.論文摘要盡量寫成報(bào)道性文摘，包括目的、方法、結(jié)果、結(jié)論4方面內(nèi)容（100字左右），應(yīng)具有獨(dú)立性與自含性，關(guān)鍵詞選擇貼近文義的規(guī)范性單詞或組合詞（3～5個(gè)）。

3.文稿篇幅（含圖表）一般不超過(guò)5000字，一個(gè)版面2500字內(nèi)。文中量和單位的使用請(qǐng)參照中華人民共和國(guó)法定計(jì)量單位最新標(biāo)準(zhǔn)。外文字符必須分清大、小寫，正、斜體，黑、白體，上下角標(biāo)應(yīng)區(qū)別明顯。

4.文中的圖、表應(yīng)有自明性。圖片不超過(guò)2幅，圖像要清晰，層次要分明。

5.參考文獻(xiàn)的著錄格式采用順序編碼制，請(qǐng)按文中出現(xiàn)的先后順序編號(hào)。所引文獻(xiàn)必須是作者直接閱讀參考過(guò)的、最主要的、公開(kāi)出版文獻(xiàn)。未公開(kāi)發(fā)表的、且很有必要引用的，請(qǐng)采用腳注方式標(biāo)明，參考文獻(xiàn)不少于3條。

6.來(lái)稿勿一稿多投。收到稿件之后，5個(gè)工作日內(nèi)審稿，電子郵件回復(fù)作者。重點(diǎn)稿件將送同行專家審閱。如果10日內(nèi)沒(méi)有收到擬用稿通知（特別需要者可寄送紙質(zhì)錄用通知），則請(qǐng)與本部聯(lián)系確認(rèn)。

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微波學(xué)報(bào)社編輯部征稿基于MPI實(shí)現(xiàn)粗糙地面電磁散射并行FDTD計(jì)算任意磁化方向下磁等離子體電磁散射分析ELF/SLF電磁波傳播的FDTD和GIS結(jié)合建模與分析天線特性測(cè)量中極化基失配的影響及校準(zhǔn)考慮互耦的多約束半波振子直線陣方向圖綜合非線性有源天線陣接收技術(shù)研究改進(jìn)遺傳算法應(yīng)用于超低副瓣天線陣的綜合設(shè)計(jì)用BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)重構(gòu)介質(zhì)圓柱體電磁參數(shù)基于多重混合遺傳算法的MIMO雷達(dá)天線布陣優(yōu)化一種新型小型化寬阻帶低通濾波器設(shè)計(jì)基于粗糙表面模型的微波波導(dǎo)連接的無(wú)源互調(diào)研究無(wú)源微帶電路中集總參數(shù)元件的FDTD模擬FDTD方法對(duì)階梯鰭線場(chǎng)分布的研究用MoM-PCG-FFT分析金屬柵有限陣列的散射問(wèn)題基于遺傳算法的唯相位控制方向圖零點(diǎn)生成微波斷層成像全局優(yōu)化重建方法部件分解法/高頻混合法在復(fù)雜目標(biāo)散射近場(chǎng)預(yù)估中的應(yīng)用fBm隨機(jī)粗糙面電磁散射的微擾法近似斜入射到非均勻等離子體上的電磁波反射系數(shù)計(jì)算求解局部不規(guī)則微帶貼片的快速有效的方法一種新型的光子帶隙結(jié)構(gòu)單元時(shí)域近場(chǎng)測(cè)試中的采樣面截?cái)嗾`差分析與修正